Численное моделирование процессов зарядки при диагностике сегнетоэлектриков методами растровой электронной микроскопии

 pdf (1030K)

Предложен алгоритм решения прикладной задачи расчета электрических характеристик полевых эффектов инжектированных зарядов в сегнетоэлектриках при электронном облучении, основанный на реализации детерминированной модели методом конечных элементов с учетом результатов моделирования транспорта электронов методом Монте-Карло. Разработано программное приложение для проведения вычислительного эксперимента.

Ключевые слова: математическая модель, алгоритм, сегнетоэлектрик, электронное облучение, процесс зарядки, метод конечных элементов, метод Монте-Карло
Цитата: Сивунов А.В., Масловская А.Г. Численное моделирование процессов зарядки при диагностике сегнетоэлектриков методами растровой электронной микроскопии // Компьютерные исследования и моделирование, 2014, т. 6, № 1, с. 107-118
Citation in English: Sivunov A.V., Maslovskaya A.G. Numerical simulation of charging processes at ferroelectric diagnostics with scanning electron microscopy techniques // Computer Research and Modeling, 2014, vol. 6, no. 1, pp. 107-118

Полнотекстовая версия журнала доступна также на сайте научной электронной библиотеки eLIBRARY.RU

Журнал входит в Перечень российских рецензируемых научных журналов, в которых должны быть опубликованы основные научные результаты диссертаций на соискание ученых степеней доктора и кандидата наук ВАК, группы специальностей: 01.01.00, 01.02.00, 03.01.00, 03.02.00.
 

Международная Междисциплинарная Конференция "Математика. Компьютер. Образование"

Международная Междисциплинарная Конференция МАТЕМАТИКА. КОМПЬЮТЕР. ОБРАЗОВАНИЕ.

Журнал включен в базу данных Russian Science Citation Index (RSCI) на платформе Web of Science