Все выпуски
- 2024 Том 16
- 2023 Том 15
- 2022 Том 14
- 2021 Том 13
- 2020 Том 12
- 2019 Том 11
- 2018 Том 10
- 2017 Том 9
- 2016 Том 8
- 2015 Том 7
- 2014 Том 6
- 2013 Том 5
- 2012 Том 4
- 2011 Том 3
- 2010 Том 2
- 2009 Том 1
Численное моделирование процессов зарядки при диагностике сегнетоэлектриков методами растровой электронной микроскопии
Список литературы:
- Моделирование методом Монте-Карло транспорта электронов в заряженных при облучении кристаллических диэлектриков // Математическое моделирование. — 2009. — Т. 20, № 6. — С. 79–85. , .
- Физико-математическое моделирование индуцированной электронным зондом зарядки сегнетоэлектриков в процессе переключения доменной структуры // Поверхность. Рентгеновские, синхротронные и нейтронные исследования. — 2013. — № 7. — С. 84–88. .
- Взаимодействие электронных пучков средних энергий с сегнетоэлектрическими материалами. — Владивосток: Изд-во «Дальнаука», 2010. — 204 с. , .
- Исследование процесса переполяризации сегнетоэлектрических кристаллов в инжекционном режиме // Журнал экспериментальной и теоретической физики. — 2009. — Т. 136, № 1(7). — С. 105–109. , .
- Применение метода конечных элементов. — М: Мир, 1979. — 388 с. .
- Компьютерное моделирование области взаимодействия пучков электронов с облученными сегнетоэлектрическими материалами // Вестник Иркутского государственного технического университета. — 2013. — № 3. — С. 73–79. , .
- Calculations of Mott scattering cross section // J. Appl. Phys. — 1990. — V. 68. — P. 3066–3072. — DOI: 10.1063/1.346400. — ads: 1990JAP....68.3066C. , , , .
- Twodimensional structures of ferroelectric domain inversion in LiNbO3 by direct electron beam lithography // J. Appl. Phys. — 2003. — V. 93. — P. 9943–9947. — DOI: 10.1063/1.1575918. — ads: 2003JAP....93.9943H. , , , , , , , .
- Monte-Carlo modeling for electron microscopy and microanalysis. — New York: Oxford University Press, 1995. — 198 p. .
- Effect of electron beam writing parameters for ferroelectric domain structuring LiNbO3:Nd3+ // Optical Materials. — 2009. — V. 31. — P. 1777–1780. — DOI: 10.1016/j.optmat.2008.12.033. — ads: 2009OptMa..31.1777M. , , , .
- A simulation of electron beam induced charging-up of insulators // Electron microscopy. — 1998. — V. 1. — P. 177–178. , , .
- Finite Element Method Using MATLAB (Mechanical Engineering). — CRC-Press, 1996. — 544 p. , .
Журнал индексируется в Scopus
Полнотекстовая версия журнала доступна также на сайте научной электронной библиотеки eLIBRARY.RU
Журнал входит в систему Российского индекса научного цитирования.
Журнал включен в базу данных Russian Science Citation Index (RSCI) на платформе Web of Science
Международная Междисциплинарная Конференция "Математика. Компьютер. Образование"
Copyright © 2009–2024 Институт компьютерных исследований