Все выпуски

[ Switch to English ]

Численное моделирование процессов зарядки при диагностике сегнетоэлектриков методами растровой электронной микроскопии

Сивунов А.В., Масловская А.Г.
 pdf (1030K)  / Список литературы

Предложен алгоритм решения прикладной задачи расчета электрических характеристик полевых эффектов инжектированных зарядов в сегнетоэлектриках при электронном облучении, основанный на реализации детерминированной модели методом конечных элементов с учетом результатов моделирования транспорта электронов методом Монте-Карло. Разработано программное приложение для проведения вычислительного эксперимента.

Ключевые слова: математическая модель, алгоритм, сегнетоэлектрик, электронное облучение, процесс зарядки, метод конечных элементов, метод Монте-Карло
Цитата: Сивунов А.В., Масловская А.Г. Численное моделирование процессов зарядки при диагностике сегнетоэлектриков методами растровой электронной микроскопии // Компьютерные исследования и моделирование, 2014, т. 6, № 1, с. 107-118
Citation in English: Sivunov A.V., Maslovskaya A.G. Numerical simulation of charging processes at ferroelectric diagnostics with scanning electron microscopy techniques // Computer Research and Modeling, 2014, vol. 6, no. 1, pp. 107-118
DOI: 10.20537/2076-7633-2014-6-1-107-118
URL: http://crm.ics.org.ru/journal/article/2120/
Creative Commons License Статья доступна по лицензии Creative Commons Attribution-NoDerivs 3.0 Unported License.
Цитирований: 2 (РИНЦ).

Журнал индексируется в Scopus

Полнотекстовая версия журнала доступна также на сайте научной электронной библиотеки eLIBRARY.RU

Журнал входит в систему  Российского индекса научного цитирования.

Журнал включен в базу данных Russian Science Citation Index (RSCI) на платформе Web of Science

Международная Междисциплинарная Конференция "Математика. Компьютер. Образование"

Международная Междисциплинарная Конференция МАТЕМАТИКА. КОМПЬЮТЕР. ОБРАЗОВАНИЕ.

Copyright © 2009–2024 Институт компьютерных исследований