Все выпуски

Компьютерное исследование инструмента для изготовления проволоки

Огородникова О.М., Бородин Е.М., Гудин А.А.
 pdf (106K)  / Аннотация

Список литературы:

  1. Волоки алмазные. Технически условия. — М: Издательство стандартов, 1991. — 9 с. — ГОСТ 6271–90.
  2. В. П. Карпушенко, В. М. Золотарев, С. В. Бузько, А. А. Науменко. Определение усилия волочения круглых профилей // Кабели и провода. — 2008. — № 2. — С. 26–31.
  3. В. Л. Колмогоров. Механика обработки металлов давлением. — Екатеринбург: Издательство УГТУ-УПИ, 2001. — 689 с.
  4. О. М. Огородникова, В. С. Литвинов. Кинетика упорядочения сплавов платина–никель–медь по типу L10 // Физика металлов и металловедение. — 1993. — Т. 75, № 6. — С. 113–117.
  5. О. М. Огородникова. Исследовательская функция программ САЕ в сквозных технологиях CAD/CAE/CAM // Вестник машиностроения. — 2012. — № 1. — С. 25–31.
  6. О. М. Огородникова. Компьютерный инженерный анализ. — Екатеринбург: УрФУ, 2009. — 205 с.
  7. О. М. Огородникова, В. С. Литвинов, И. Н. Саханская. Текстура, структура и пластичность упорядоченного сплава NiPt // Физика металлов и металловедение. — 1990. — Т. 70, № 7. — С. 147–151.
  8. И. Л. Перлин, М. З. Ерманок. Теория волочения. — М: Металлургия, 1971. — 447 с.
  9. Сайт изготовителя:Екатеринбургский завод по обработке цветных металлов [электронный ресурс]. — 2014. — https://ezocm.ru/.
  10. В. В. Харитонов, Е. М. Бородин, М. Ю. Бородин, А. В. Ананьев. Конечно-элементное моделирование непрерывной прокатки труб. — Екатеринбург: УрФУ, 2011. — 139 с.
  11. G. A. Attard, J. Y. Ye, A. A. Brew, et al. Characterisation and electrocatalytic activity of PtNi alloys on Pt{111} electrodes formed using different thermal treatments // Journal of Electroanalytical Chemistry. — 2014. — V. 716. — P. 106–111. — DOI: 10.1016/j.jelechem.2013.09.018.
  12. S. K. Lee, D. W. Kim, M. S. Jeong, B. M. Kim. Evaluation of axial surface residual stress in 0.82-wt% carbon steel wire during multi-pass drawing process considering heat generation // Materials and Design. — 2012. — V. 34. — P. 363–371. — DOI: 10.1016/j.matdes.2011.06.036.
  13. F. Panciera, K. Hoummada, C. Perrin, et al. Ni(Pt)-silicide contacts on CMOS devices: Impact of substrate nature and Pt concentration on the phase formation // Microelectronic Engineering. — 2014. — V. 120. — P. 34–40. — DOI: 10.1016/j.mee.2013.12.016.

Журнал индексируется в Scopus

Полнотекстовая версия журнала доступна также на сайте научной электронной библиотеки eLIBRARY.RU

Журнал входит в систему  Российского индекса научного цитирования.

Журнал включен в базу данных Russian Science Citation Index (RSCI) на платформе Web of Science

Международная Междисциплинарная Конференция "Математика. Компьютер. Образование"

Международная Междисциплинарная Конференция МАТЕМАТИКА. КОМПЬЮТЕР. ОБРАЗОВАНИЕ.

Copyright © 2009–2024 Институт компьютерных исследований