Все выпуски

Применение метода конечных элементов для моделирования эволюционных процессов теплопроводности в облученных электронными пучками полярных диэлектриках

Масловская А.Г., Сивунов А.В.
 pdf (530K)  / Аннотация

Список литературы:

  1. Л. А. Бакалейников, Е. В. Галактионов, В. В. Третьяков, Э. А. Троп. Расчет теплового воздействия электронного зонда на образец нитрида галлия // ФТТ. — 2001. — Т. 43, № 5. — С. 779–785.
  2. Дж. Гоулдстейн, Д. Ньюбери, П. Эчлин. Растровая электронная микроскопия и рентгеновский микроанализ. — М: Мир, 1984. — 348 с.
  3. Г. Карслоу, Д. Егер. Теплопроводность твердых тел. — М: Наука, 1964. — 490 с.
  4. И. К. Кикоин. Таблицы физических величин. — М: Атомиздат, 1976. — 1008 с.
  5. М. Лайнс, А. Гласс. Сегнетоэлектрики и родственные им материалы. — М: Мир, 1981. — 725 с.
  6. Л. К. Мартисон, Ю. И. Малов. Дифференциальные уравнения математической физики. — М: МГТУ им. Баумана, 1996. — 350 с.
  7. А. Г. Масловская. Анализ тепловых эффектов, возникающих при взаимодействии электронных пучков с сегнетоэлектрическими кристаллами // Известия вузов. Физика. — 2010. — № 1. — С. 34–40.
  8. А. Г. Масловская. Моделирование теплового воздействия электронного зонда в растровой электронной микроскопии // Информатика и системы управления. — 2007. — Т. 14, № 2. — С. 40–51.
  9. А. Г. Масловская, А. В. Сивунов. Расчет тепловой нагрузки на кристалл ниобата лития при электронном облучении // Известия вузов. Физика. — 2011. — Т. 2, № 1. — С. 80–86.
  10. Л. Дж. Сегерлинд. Применение метода конечных элементов. — М: Мир, 1979. — 388 с.
  11. М. Н. Филиппов. Оценка теплового воздействия электронного зонда в растровой электронной микроскопии рентгеноспектральном анализе // Изв. РАН. Сер. физич. — 1993. — № 8. — С. 163–171.
  12. В. Ф. Формалев, Д. Л. Ревизников. Численные методы. — М: ФИЗМАТЛИТ, 2006. — 400 с.
  13. D. Drouin, A. Couture, D. Joly, X. Tastet, V. Aimez, R. Gauvin. CASINO V2.42 — A Fast and Easy-touse Modeling Tool for Scanning Electron Microscopy and Microanalysis Users // Scanning. — 2007. — V. 29. — P. 92–101. — DOI: 10.1002/sca.20000.
  14. E. Napchan. Monte Carlo Simulation of Electron Trajectory // European Microscopy and Analysis. — 1992. — V. 2. — P. 21–23.

Журнал индексируется в Scopus

Полнотекстовая версия журнала доступна также на сайте научной электронной библиотеки eLIBRARY.RU

Журнал входит в систему  Российского индекса научного цитирования.

Журнал включен в базу данных Russian Science Citation Index (RSCI) на платформе Web of Science

Международная Междисциплинарная Конференция "Математика. Компьютер. Образование"

Международная Междисциплинарная Конференция МАТЕМАТИКА. КОМПЬЮТЕР. ОБРАЗОВАНИЕ.

Copyright © 2009–2024 Институт компьютерных исследований